科研公共服務條件平臺X射線光電子能譜儀，已經安裝調試完畢，即日起對校內開放試運行，歡迎校內師生預約測試！

一、基本參數

型號：ESCALAB Xi⁺

廠家：賽默飛世爾科技(Thermo Fisher Scientific)

單色Al Ka大面積XPS

能量分辨率(eV) 靈敏度(cps)

≤0.5 600000

≤0.6 1500000

≤1.0 3500000

最佳空間分辨率優于20 um

成像XPS空間分辨率優于3 um

雙陽極Mg Ka XPS

能量分辨率(eV) 靈敏度(cps)

≤0.8 650000

≤1.0 7000000

≤1.35 13000000

紫外光電子能譜(UPS)

費米邊分辨率：100 meV 靈敏度：1000000 cps

二、應用領域

XPS是一種應用廣泛的表面分析方法，可對周期表中除H、He外的所有元素進行定性、定量和價態分析；結合離子刻蝕可進行片狀或薄膜材料的深度分析；UPS可分析導電樣品的價帶結構，進行功函數的測量等。儀器由具備單色化XPS、平行成像XPS、離子散射譜ISS、反射電子能量損失譜REELS、紫外光電子譜UPS、ARXPS分析的主機和真空鍍膜腔室、光催化反應室、惰性氣體傳輸及真空互聯系統等組成。電子能譜在納米材料、高分子材料、材料的腐蝕與防護、各類功能薄膜的機理研究、催化劑研究與失效等方面具有不可替代的作用，在化學、化工、物理、新材料、電子工業、能源、冶金、生物醫學和環境科學中應用廣泛。

預約請登錄：http://facility.whu.edu.cn

地點：武漢大學尖端科技樓105B

聯系人：吳老師15005601152